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AT105系統用于片狀或薄膜狀電磁屏蔽材料及吸波材料的性能測試。系統使用一臺Agilent ENA/PNA/PNA-L系列網絡分析儀,配合不同的測試附件,即可完成電磁屏蔽材料的主要性能測試,包括:屏蔽效能、磁導率/介電常數、反射損耗、功率損耗。